Il fascio ionico focalizzato, in breve FIB, da «focused ion beam», è uno strumento simile al microscopio elettronico a scansione, o SEM («scanning electron microscope»), che però, al posto degli elettroni di cui si serve il SEM per produrre immagini, usa ioni di gallio per scolpire strutture nanometriche. Nell’industria microelettronica